X-Ray

Pomiary grubości powłok galwanicznych za pomocą dedykowanych spektrometrów: stacjonarnego Fischerscope X-ray XDLM 237, Fischerscope X-Ray XDLM C4 i ręcznego Skyray Instrument Explorer 5000, w których zastosowana jest metoda fluorescencji rentgenowskiej zgodna z DIN 50987, ISO 3497 i ASTM B568.

Ta technika umożliwia również identyfikację składu chemicznego warstw oraz kontroli jakości powłok, co jest istotne w różnych branżach, takich jak przemysł motoryzacyjny, elektronika, biomedycyna i wiele innych.

Metoda rentgenowska oferuje wiele zalet, takich jak:

• Precyzja: X-ray pozwala na precyzyjne pomiary grubości warstw nawet w zakresach mikrometrów.
• Nieinwazyjność: Pomiar jest nieinwazyjny, co oznacza, że nie wymaga uszkadzania próbki.
• Wszechstronność: Może być stosowana na różnych typach powłok i podłożach.
• Analiza chemiczna: Oprócz grubości, metoda rentgenowska pozwala również na analizę składu chemicznego powłok.
• Szybkość: Pomiar jest stosunkowo szybki i nie wymaga skomplikowanego przygotowania próbki.